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.jpg) 质量控制仪器
X-Rite CiTM 52
多功能分光光度仪
分光光度仪可测定不同材料、尺寸、形状、纹理、及透明度不同的样品，并保证测量结果的一致性。同时测定颜色和外观可增加准确度。本装置使用时可采用悬挂手柄形式，或组装成小型台式仪器。启用Netprofiler3系统可确保稳定、精确的性能。
X-Rite Ci52的优点
功能完备 - 可提供手柄式或台式操作模式；配置远程端口控制测量选项使用更方便。
操作便捷 - 可视（LED）指示器和音频状态指示器，随时提示操作情况。
测量方法更完备 - 借助下调后翻式定位板和远程端口控制测量，可轻松测定处理难度高的样品。
可测定的样品种类和尺寸更广 - 大于等于14毫米的纸张、塑料、织物；各种坚硬表面。
读数迅速、准确 - 标准平整样品以及形状复杂样品的测定时间均为2秒。
性能可靠 - 全面的测定方式——可测包含镜面反射（颜色）以及排除镜面反射（外观），以确定镜面因素的影响。
测定结果一致 - 杰出的兼容性，确保各种仪器组合的颜色控制具有极高的一致性。
启用NetProfiler®3 - 机载系统优化仪器性能，还可实现远程认证。
无缝衔接 - 与现有爱色丽分光光度仪操作方式相同。
X-Rite Ci52 规格
| 测量光学系统 |
d/8°, DRS光谱感应器
同时测量SPIN/SPEX |
| 光学测量孔径 |
8毫米测量区域
14毫米测量目标窗 |
| 光源 |
充气钨丝灯 |
| 接收器 |
硅光电二极管(蓝光增强) |
| 光谱范围 |
400-700nm |
| 光谱波长间距 |
10nm - 测量
10nm - 输出 |
| 测量范围 |
0-200%反射率 |
| 测量时间 |
约2秒 |
| 仪器间协议 |
CIE L*a*b*;
平均0.20ΔE*ab, 测量12块BCRA II系列色板平均值(包含镜面反射);
最大0.40ΔE*ab, 测量任何色板(包含镜面反射) |
| 短斯重复性 |
0.05ΔE*ab, 测量白色标准板 |
| NetProfiler支持 |
嵌入式 |
| Transform支持 |
嵌入式 |
| 灯泡寿命 |
约500,000次测量 |
| 电源 |
电源适配器要求
90-130VAC或100-240VAC, 50-60Hz, 15W max |
| 数据界面 |
USB |
| 操作温度范围 |
50°至104°F(10°至40°C)
最大相对湿度:85%(无结露) |
| 储存温度范围 |
-4°至122°F(-20°至50°C) |
| 重量 |
1.9磅(0.87千克) |
| 体积 |
4.3″高(10.9厘米)×3.6″宽(9.1厘米)×8.4″长(21.3厘米) |
| 标准附件 |
校正标准：黑校正标准、可移动白色和绿色标准板；使用说明书、交流电适配器，USB数据线 |
| 可选配件 |
可选台式站立式样品固定夹具 |
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